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SE50S-ECO-系列 半導體紅外光譜儀 (FT-IR)

  • 料號:SE50S-ECO
  • 矽中的碳氧濃度測量。晶圓的外延厚度測量(EPI)。檢測矽晶圓中碳氧濃度的均勻性與變異性。提供薄膜與外延層製程的高精度分析數據。

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